Analisi di semiconductor
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DB-FIB
Introduzione di u serviziu Attualmente, DB-FIB (Dual Beam Focused Ion Beam) hè largamente applicatu in a ricerca è l'ispezione di i prudutti in campi cum'è: Materiali ceramici, polimeri, materiali metallici, studi biologici, semiconduttori, ambitu di u serviziu di geologia Materiali semiconduttori, organici picculi molecule, materiali organici ibridi, materiali inorganici, materiali ibridi, materiali inorganici, materiali non-organici, materiali inorganici. u rapidu avanzamentu di l'elettronica semiconductora è di u circuitu integratu ... -
Analisi fisica distruttiva
A cunsistenza di qualitàdi u prucessu di fabricazioneincumpunenti ilittronicasòu prerequisiteper i cumpunenti elettronichi per risponde à u so usu è e specificazioni relative. Un gran numaru di cumpunenti falsificati è rinnuvati sò inundatu u mercatu di furnimentu di cumpunenti, l'approcciuper determinà l'autenticità di i cumpunenti di u scaffale hè un prublema maiò chì affligge l'utilizatori di cumpunenti.
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Analisi di fallimentu
Cù l'accortamentu di u ciculu di R&D di l'impresa è a crescita di a scala di fabricazione, a gestione di u produttu di a cumpagnia è a cumpetitività di i prudutti sò affruntate à parechje pressioni da i mercati domestici è stranieri. Duranti tuttu u ciclu di vita di u pruduttu, a qualità di u produttu hè garantitu, è u tassu di fallimentu bassu o ancu cero fallimentu diventa una cumpetitività impurtante di una impresa, ma hè ancu una sfida per u cuntrollu di qualità di l'impresa.
